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O presente trabalho objetiva apresentar os diferentes critérios de exame empregados em três instituições de propriedade industrial para a concessão do registro de Desenho Industrial, ferramenta de proteção de propriedade industrial existente no campo da Propriedade Intelectual. As três instituições escolhidas como amostra nessa publicação são: o Instituto Nacional da Propriedade Industrial, no Brasil, o United States Patent and Trademark Office, nos Estados Unidos, e, por fim, o Japan Patent Office, no Japão. Iniciaremos com uma introdução a respeito da relação entre Propriedade Industrial e Desenho Industrial, passando então para uma evolução da proteção através de um panorama histórico. Passaremos então a um resumo dos critérios de exame para a concessão da proteção ao Desenho Industrial nos três institutos. Por fim, compararemos os critérios de exame nesses três diferentes países, apreciando as diferenças de tratamento que transparecem no escopo da proteção e também nas definições presentes nas respectivas ferramentas de proteção da propriedade industrial.