Espalhamento ressonante de raios-X aplicado ao estudo de nanoestruturas e interfaces

Espalhamento ressonante de raios-X aplicado ao estudo de nanoestruturas e interfaces

Malachias, Angelo

Resumo:

Neste seminário abordarei a técnica de espalhamento ressonante de raios-x. Com o crescente uso de fontes de luz síncrotron foi possível utilizar energias selecionadas para os fótons em experimentos de espalhamento e difração. Mostrarei de forma breve as vantagens em se utilizar essas fontes em relação às fontes convencionais. Exemplos de aplicação de difração ressonante em nanoestruturas para obtenção de contraste químico, direto e complementar, com sensitividade ao parâmetro de rede em nanoestruturas serão discutidos. Por fim, mostrarei também que é possível observar contraste entre átomos da mesma espécie, mas com hibridizações distintas (por exemplo, carbono), de modo a poder compreender interfaces cujas propriedades não são acessíveis por outras metodologias.

Neste seminário abordarei a técnica de espalhamento ressonante de raios-x. Com o crescente uso de fontes de luz síncrotron foi possível utilizar energias selecionadas para os fótons em experimentos de espalhamento e difração. Mostrarei de forma breve as vantagens em se utilizar essas fontes em relação às fontes convencionais. Exemplos de aplicação de difração ressonante em nanoestruturas para obtenção de contraste químico, direto e complementar, com sensitividade ao parâmetro de rede em nanoestruturas serão discutidos. Por fim, mostrarei também que é possível observar contraste entre átomos da mesma espécie, mas com hibridizações distintas (por exemplo, carbono), de modo a poder compreender interfaces cujas propriedades não são acessíveis por outras metodologias.

Palavras-chave:

DOI: 10.5151/23abcr-22

Referências bibliográficas

• [1]

Como citar:

Malachias, Angelo; "Espalhamento ressonante de raios-X aplicado ao estudo de nanoestruturas e interfaces", p-39-39. In: . São Paulo: Blucher, 2017.
ISSN 23589337, DOI 10.5151/23abcr-22