Setembro 2017 vol. 2 num. 2 - 23a Reunião da Associação Brasileira de Cristalografia
Resumo - Open Access.
Espalhamento ressonante de raios-X aplicado ao estudo de nanoestruturas e interfaces
Malachias, Angelo ;
Resumo:
Neste seminário abordarei a técnica de espalhamento ressonante de raios-x. Com o crescente uso de fontes de luz síncrotron foi possível utilizar energias selecionadas para os fótons em experimentos de espalhamento e difração. Mostrarei de forma breve as vantagens em se utilizar essas fontes em relação às fontes convencionais. Exemplos de aplicação de difração ressonante em nanoestruturas para obtenção de contraste químico, direto e complementar, com sensitividade ao parâmetro de rede em nanoestruturas serão discutidos. Por fim, mostrarei também que é possível observar contraste entre átomos da mesma espécie, mas com hibridizações distintas (por exemplo, carbono), de modo a poder compreender interfaces cujas propriedades não são acessíveis por outras metodologias.
Resumo:
Palavras-chave: nanoestruturas, interfaces,
Palavras-chave:
DOI: 10.5151/23abcr-22
Referências bibliográficas
- [1] .
Como citar:
Malachias, Angelo; "Espalhamento ressonante de raios-X aplicado ao estudo de nanoestruturas e interfaces", p. 39 . In: .
São Paulo: Blucher,
2017.
ISSN 2358-9337,
DOI 10.5151/23abcr-22
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