Agosto 2019 vol. 1 num. 3 - 9º WORKSHOP DE CRISTALOGRAFIA APLICADA A CIÊNCIAS E ENGENHARIA DE MATERIAIS

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STUDY OFTHE FUNDAMENTAL PARAMETERS OF X-RAY FLUORESCENCE AND ITS IMPLICATIONS IN THE QUANTIFICATION OF THIN AND THICK SAMPLES

STUDY OFTHE FUNDAMENTAL PARAMETERS OF X-RAY FLUORESCENCE AND ITS IMPLICATIONS IN THE QUANTIFICATION OF THIN AND THICK SAMPLES

Galvão, E. S. ; Neto, C. A. R. ; Feroni, R. C. ;

Artigo:

A fluorescência de raios X (XRF) tem sido amplamente utilizada em análises da composição inorgânica/metálica de amostras nas mais diversas áreas da ciência. Entre algumas vertentes do princípio da XRF, destaca-se a Fluorescência de Raios X por Energia Dispersiva (EDXRF), devido seu baixo custo analítico, simplicidade analítica e a quase inexistente necessidade de preparação e manipulação das amostras previamente as análises. Diversas são as variáveis relacionadas aos parâmetros fundamentais, método utilizado para a quantificação da composição elementar de amostras analisadas por XRF, como forma de corrigir efeitos de matriz que ocorrem no interior das amostras. Uma vez estudadas as variáveis que influenciam no efeito matriz, uma forma adequada de quantificação das amostras pode ser realizada por meio da construção de curvas de calibração. No presente estudo, foi realizada a construção de curvas de calibração para a quantificação de amostras analisadas por EDXRF, utilizando padrões de calibração com elementos depositados em filmes de Mylar®, para 32 elementos variando de Na (Z=11) ao Nd (Z=60). Todas as análises foram realizadas em um espectrofotômetro Shimadzu, modelo EDX-720/800HS. Os resultados mostram a qualidade das curvas obtidas para elementos separados por grupos de número atômico, nas quais as curvas apresentaram coeficientes R iguais ou superiores a 0,89.

Artigo:

X-ray fluorescence (XRF) has been widely used in the analysis of the inorganic/metallic composition of samples in the most diverse areas of science. Among some aspects of the XRF principle, X-ray Fluorescence by Dispersive Energy (EDXRF) stands out, due to its low analytical cost, analytical simplicity and the almost non-existent need of preparation and manipulation of the samples previous the analysis. Several variables are related to the fundamental parameters, the method used to quantify the elemental composition of samples analyzed by XRF, as a way of correcting matrix effects that occur inside the samples. Since studied the variables influencing the matrix effect, an adequate form of quantification of the samples can be performed by means of the construction of calibration curves. In the present study, calibration curves were made for the quantification of samples analyzed by EDXRF, using calibration standards with elements deposited in Mylar® films, for 32 elements varying from Na (Z = 11) to Nd (Z = 60). All analyses were performed on a Shimadzu spectrophotometer, model EDX-720/800HS. The results show the quality of the curves obtained for elements separated by groups of atomic number, in which the curves presented coefficients R equal or superior to 0.89.

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DOI: 10.5151/wcacem-03

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Como citar:

Galvão, E. S.; Neto, C. A. R.; Feroni, R. C.; "STUDY OFTHE FUNDAMENTAL PARAMETERS OF X-RAY FLUORESCENCE AND ITS IMPLICATIONS IN THE QUANTIFICATION OF THIN AND THICK SAMPLES", p. 14-19 . In: . São Paulo: Blucher, 2019.
ISSN 2358-9337, DOI 10.5151/wcacem-03

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